報告人：周維虎
　　報告內容：介紹中國科學院集成電路創(chuàng)新研究院發(fā)展規(guī)劃，集成電路制造中微納測量技術現(xiàn)狀及需求，集成電路制造工藝中相關微納計量與檢測技術進展。
　　報告時間：9月18日15：00
　　報告地點：仰儀北樓218

個人簡介：
　　周維虎，中國科學院微電子所研究員，光電技術研發(fā)中心主任，中國科學院大學崗位教授，博士生導師。1988年至1990年在法國Louis Pasteur大學做訪問學者，2000年在合肥工業(yè)大學精密儀器系獲工學博士學位，2001年4月至2003年4月在美國Wisconsin- Milwaukee大學做博士后，2003年5月至2004年7月在美國Oakland 大學做博士后，2001年至2004年擔任美國Automated Precision Inc.（Maryland，USA）公司高級研究員。擔任科技部科學儀器重大專項總體組專家，科技部制造基礎專項總體組專家，國家02重大專項光學曝光系統(tǒng)總體組專家，全國光電測量標準化技術委員會秘書長，中國計量測試學會計量儀器專業(yè)委員會副主任委員，中國儀器儀表學會光譜儀器專業(yè)委員會副主任委員，華中科技大學、北航、大連理工大學、吉林大學、中國計量大學等高校兼職教授/博士生導師，南京航空航天大學特聘教授，《Optical Engineering》《Measurement Science and Technology》等10余份國外期刊審稿人，多次在國際會議做特邀報告（Invited Talk），多次擔任國際會議分會場主席（Session Chairman）。
　　歡迎全校師生參加！

計量測試工程學院
2019年9月16日