日前，我校計量技術工程學院李東升教授的研究生丁雪應邀參加了在英國哈德斯菲爾德舉行的11th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces國際會議，會議期間丁雪作了題為Development of Leaf Surface Topography Precision Sensors的報告，該報告為國家自然基金資助項目“作物葉片周期性增厚機理及水分優化控制的研究”的主要研究內容之一，報告引起了與會專家學者的廣泛關注。 　　International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces是由Tom R Thomas和Ken Stout發起的國際性學術會議，每兩年舉辦一次。第11屆國際會議在哈德斯菲爾德大學舉行，來自英國、德國、法國、中國、波蘭等十余個國家的近百位專家學者參加了此次會議，包括Professor David J. Whitehouse，Professor Tom R Thomas和Professor Liam Blunt等國際知名學者。該會議在國際計量領域具有深遠影響，會議論文將被SCI源期刊Journal of Physics收錄。 　　這是我校研究生首次登上國際學術交流舞臺，對提高我校知名度及學術交流的促進具有積極的影響。